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第411章 芯片流片失败的原因竟然是日本的晶圆问题？（第1页）

“梁博士，你们有没有检查晶圆材料？”叶云州问道。

星耀半导体在海京建造的晶圆材料生产厂还没有建成，目前用的晶圆材料都是从日本信越化学进口的。

芯片制造对材料的要求很高，如果材料的纯度、质量等不符合要求，可能会影响芯片的性能和可靠性。

例如，使用的硅晶圆有缺陷，就可能会导致芯片出现故障。

“董事长，应该不可能吧，如果是材料的问题其它芯片也不可能流片成功啊，这些晶圆材料都是同一批采购的。”

“走，梁博士，叫上材料检测的几位专家跟我一起去现场看看。”

“呃，好。”

梁梦松起身，拿出手机给材料检测科的人打电话。

很快，叶云州，梁梦松和苏瑶三人来到芯片制造厂，三人穿上静电无尘服，将全身包裹得严严实实，又经过高度清洁外表后才踏入工厂。

几人来到晶圆材料放置的库房，几位材料检测的专家已经在等待了。

“董事长，梁厂长......”

“别多礼了，这批晶圆材料都检测过吗？”叶云州问道。

“这是第三批从日本进口的材料，我们已经抽检过了，没问题。”其中一位比较年轻的材料检测专家回复道。

“这批材料也是从信越化学进口的？”

“不是，这一批是从SUMCO进口的。”

叶云州皱眉问道：“我们不是一直从信越化学进口吗？怎么有SUMCO的？”

梁梦松在旁边亲自解释道：“董事长，目前我们的供应商有三家，分别是信越化学，SUMCO和世创电子材料。”

“嗯，这三家就是目前世界排名前三的晶圆制造厂，前两家是日本的，后面一家是德国的。”

叶云州点点头，大概了解了。

“你们就是用从SUMCO进口的晶圆来流片的时候失败的是吧。”

“是的，董事长。”

“好，那先集中抽检这批从SUMCO进口的晶圆。”

在场的几位材料检测专家明显脸上不好看，看来董事长不信任他们啊，明明他们已经抽检过了，董事长还要抽检一次。

不过，他们也不敢忤逆老板，这个老板可是叶云州啊。

检测晶圆材料是否有缺陷有多种办法。

在叶云州现场指挥下，检测专家们通过三种不同的方法来检测。

第一种方法是光学检测法。

利用光学显微镜可以直接观察晶圆表面的微观缺陷，如划痕、颗粒、凹坑等。这种方法简单直接，但检测精度有限，对于较小的缺陷可能难以发现。

而通过光学干涉测量来检测就精准得多。